測(cè)試的分類

1. 基本分類
□ 白盒測(cè)試
□ 黑盒測(cè)試
□ 灰盒測(cè)試

2. 按測(cè)試階段分類
□ 單元測(cè)試
□ 集成測(cè)試
□ 系統(tǒng)測(cè)試
□ 驗(yàn)收測(cè)試

3. 按測(cè)試目的或?qū)ο蠓诸?br/>□ 數(shù)據(jù)和數(shù)據(jù)庫(kù)完整性測(cè)試
□ 白盒測(cè)試
□ 功能測(cè)試
□ 用戶界面測(cè)試
□ 性能測(cè)試
□ 安全性和訪問控制測(cè)試
□ 故障轉(zhuǎn)移和恢復(fù)測(cè)試
□ 配置測(cè)試
□ 安裝測(cè)試
□ 多語(yǔ)種測(cè)試
□ 文字測(cè)試
□ 分辨率測(cè)試
□ 發(fā)布測(cè)試
□ 文檔測(cè)試

白盒測(cè)試

1. 白盒測(cè)試
白盒測(cè)試也稱結(jié)構(gòu)測(cè)試或邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試，它是按照程序內(nèi)部的結(jié)構(gòu)測(cè)試程序，通過測(cè)試來檢測(cè)產(chǎn)品內(nèi)部動(dòng)作，是否按照設(shè)計(jì)規(guī)格說明書的規(guī)定正常進(jìn)行，檢驗(yàn)程序中的每條通路是否都能按預(yù)定要求正確工作。
白盒測(cè)試是窮舉路徑測(cè)試。

2. 白盒測(cè)試主要是想對(duì)程序模塊進(jìn)行如下的檢查：
□ 對(duì)程序模塊的所有獨(dú)立的執(zhí)行路徑至少測(cè)試一遍
□ 對(duì)所有的邏輯判定，取真或取假的兩種情況都能至少測(cè)試一遍
□ 在循環(huán)的邊界和運(yùn)行的界限內(nèi)執(zhí)行循環(huán)體
□ 測(cè)試內(nèi)部數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)的有效性

3. 白盒測(cè)試目前主要用在具有高可靠性要求的軟件領(lǐng)域，例如：軍工軟件、航天航空軟件、工業(yè)控制軟件等。

黑盒測(cè)試

1. 黑盒測(cè)試
黑盒測(cè)試也稱功能測(cè)試，它是通過測(cè)試來檢測(cè)每個(gè)功能是否都能正常使用。它著眼于程序外部結(jié)構(gòu)，不考慮內(nèi)部邏輯結(jié)構(gòu)，主要針對(duì)軟件界面和軟件功能進(jìn)行測(cè)試。它從用戶的角度，從輸入數(shù)據(jù)和輸出數(shù)據(jù)的對(duì)應(yīng)關(guān)系出發(fā)進(jìn)行測(cè)試的。

2. 黑盒測(cè)試的目的是試圖發(fā)現(xiàn)以下幾類錯(cuò)誤：
□ 是否有不正確或遺漏的功能
□ 在接口上，輸入是否能正確的接受
□ 能否輸出正確的結(jié)果
□ 是否有數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)錯(cuò)誤或外部信息（例如數(shù)據(jù)文件）訪問錯(cuò)誤
□ 性能上是否能夠滿足要求
□ 是否有初始化或終止性錯(cuò)誤

灰盒測(cè)試

1. 灰盒測(cè)試
灰盒測(cè)試是介于白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試之間的，灰盒測(cè)試關(guān)注輸出對(duì)于輸入的正確性，同時(shí)也關(guān)注內(nèi)部表現(xiàn)，是基于對(duì)程序內(nèi)部細(xì)節(jié)有限認(rèn)知上的測(cè)試方式。灰盒測(cè)試不像白盒測(cè)試那樣詳細(xì)、完整，但又比黑盒測(cè)試更關(guān)注程序的內(nèi)部邏輯，常常是通過一些表征性的現(xiàn)象、事件、標(biāo)志來判斷內(nèi)部的運(yùn)行狀態(tài)。

2. 灰盒測(cè)試的特點(diǎn)：
□ 灰盒測(cè)試比白盒測(cè)試效率高，從程序的整體出發(fā)，而非細(xì)節(jié)
□ 灰盒測(cè)試健壯性好，相對(duì)于白盒測(cè)試降低了程序代碼改變而導(dǎo)致用例失效的風(fēng)險(xiǎn)
□ 灰盒測(cè)試更細(xì)致，灰盒測(cè)試要求測(cè)試人員關(guān)注程序的代碼邏輯，根據(jù)代碼邏輯擴(kuò)充用例，更加細(xì)致

測(cè)試階段

單元測(cè)試

1. 單元測(cè)試的目的是：
□ 在開發(fā)環(huán)境中，程序設(shè)計(jì)工程師為了檢查單元程序模塊內(nèi)部的邏輯、算法和數(shù)據(jù)處理結(jié)果的正確性等
□ 單元測(cè)試通常由負(fù)責(zé)編碼的工程師自己在代碼完成后測(cè)試，也有在項(xiàng)目組內(nèi)，由工程師相互交叉測(cè)試
□ 項(xiàng)目經(jīng)理的管理一般不深入到單元測(cè)試

2. 單元測(cè)試的內(nèi)容主要是：
□ 算法邏輯
□ 數(shù)據(jù)定義的理解和使用
□ 接口
□ 各種Case的路徑
□ 邊界條件
□ 錯(cuò)誤處理

3. 單元測(cè)試的活動(dòng)
□ 單元測(cè)試計(jì)劃和測(cè)試用例被評(píng)審和批準(zhǔn)，并在基線控制下
□ 按計(jì)劃執(zhí)行單元測(cè)試用例
□ 更新需求跟蹤矩陣以確認(rèn)測(cè)試覆蓋率
□ 進(jìn)行缺陷分析
□ 完成單元測(cè)試報(bào)告等

4. 單元測(cè)試的度量：
□ 代碼覆蓋百分比
□ 與代碼標(biāo)準(zhǔn)的符合度
□ 循環(huán)復(fù)雜度
□ 代碼行數(shù)
□ 路徑數(shù)
□ 參數(shù)
□ 缺陷密度等

集成測(cè)試

1. 集成測(cè)試又稱組裝測(cè)試，它是在單元測(cè)試完成后，組裝成一個(gè)子系統(tǒng)后，對(duì)下列只有組裝后才能發(fā)生和測(cè)試到的問題進(jìn)行檢查：
□ 組裝后一個(gè)模塊對(duì)另一個(gè)模塊的影響
□ 合并功能是否是預(yù)期的
□ 獨(dú)立的誤差在合并后的變化，是擴(kuò)大還是縮小，是否在可接受的范圍內(nèi)
□ 實(shí)際的接口測(cè)試，包括：模塊之間對(duì)實(shí)際銜接的標(biāo)準(zhǔn)、實(shí)時(shí)性、應(yīng)答響應(yīng)、容錯(cuò)與錯(cuò)誤處理等
□ 模塊間的資源競(jìng)爭(zhēng)等

2. 通常采用分階段的增量組裝測(cè)試，避免因一次集成造成問題的隔離和區(qū)分不易。

3. 系統(tǒng)測(cè)試的目的是按照與用戶確認(rèn)的軟件需求規(guī)格說明書的要求，檢查系統(tǒng)的需求實(shí)現(xiàn)。

4. 獨(dú)立的測(cè)試組中，具有相應(yīng)知識(shí)的測(cè)試工程師，根據(jù)需求規(guī)格說明書以及用戶將會(huì)在什么環(huán)境下，如何使用該軟件，來設(shè)計(jì)測(cè)試方案和測(cè)試用例，并進(jìn)行測(cè)試。

5. 系統(tǒng)測(cè)試還包括軟件修改后的再測(cè)試-回歸測(cè)試，回歸測(cè)試是對(duì)已測(cè)試并發(fā)現(xiàn)故障的部分修改后再測(cè)試。它可能不需要再完整地走一遍系統(tǒng)測(cè)試，只需選擇部分相關(guān)用例進(jìn)行測(cè)試。

驗(yàn)收測(cè)試

1. 在應(yīng)用軟件環(huán)境中，驗(yàn)收測(cè)試是項(xiàng)目過程非常重要的一環(huán)，也是項(xiàng)目經(jīng)理需要非常關(guān)注的一項(xiàng)工作。

2. 驗(yàn)收測(cè)試與系統(tǒng)測(cè)試非常相似，不同的是系統(tǒng)測(cè)試是項(xiàng)目組或組織內(nèi)部的測(cè)試，驗(yàn)收測(cè)試是用戶主導(dǎo)、現(xiàn)場(chǎng)參與、現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境下的測(cè)試。

3. 驗(yàn)收測(cè)試通常由項(xiàng)目組提出測(cè)試大綱，定義測(cè)試目的、范圍、方法、測(cè)試用例、預(yù)期結(jié)果、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)等。經(jīng)用戶審核、修改、批準(zhǔn)同意后，確定測(cè)試時(shí)間，進(jìn)行驗(yàn)收測(cè)試。

4. 用戶在完成按測(cè)試用例的測(cè)試后，在測(cè)試記錄上逐條確認(rèn)、簽字，最后在測(cè)試報(bào)告上簽字，完成驗(yàn)收測(cè)試。

集成/系統(tǒng)/驗(yàn)收測(cè)試

1. 集成/系統(tǒng)/驗(yàn)收測(cè)試的活動(dòng)
□ 測(cè)試計(jì)劃和測(cè)試用例被評(píng)審和批準(zhǔn)，并在基線控制下
□ 按計(jì)劃執(zhí)行測(cè)試用例
□ 更新需求跟蹤矩陣以確認(rèn)測(cè)試覆蓋率
□ 進(jìn)行缺陷分析
□ 完成測(cè)試報(bào)告等

2. 集成/系統(tǒng)/驗(yàn)收測(cè)試的度量
□ 成本偏差
□ 進(jìn)度偏差
□ 缺陷數(shù)
□ 生產(chǎn)率
□ 有效性
□ 測(cè)試覆蓋指標(biāo)等