有爆料人在周一稱,蘋果公司正在一款采用單挖孔攝像頭的 iPhone 18 Pro 原型機上積極測試屏下面容 ID 系統。
據微博賬號“數碼閑聊站”稱,蘋果公司正在為預計將于明年發布的 iPhone 18 Pro 和 iPhone 18 Pro Max 測試屏下 3D 面部識別技術。
這位爆料人的最新說法證實了 The Information 周末的一篇報道,該報道稱,蘋果兩款 iPhone 18 Pro 機型可能會采用屏下面容 ID,僅在屏幕左上角開一個小孔以容納前置攝像頭。
屏下面容 ID 是一項重大的工程挑戰,因為它要求蘋果公司在 iPhone 的 OLED 顯示屏下方集成復雜的紅外面部識別傳感器,并且不能影響其準確性和可靠性。
與簡單的前置攝像頭不同,面容 ID 依靠投射和讀取數千個紅外點來創建用戶面部的詳細深度圖。OLED 面板會自然阻擋或散射大部分紅外光,導致系統難以在屏幕下方正常工作。
編輯于 2025-05-06 11:58:56
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