高校/科研機(jī)構(gòu)以及試驗(yàn)機(jī)廠商，在材料與結(jié)構(gòu)力學(xué)性能測(cè)試中，對(duì)于測(cè)試精度、穩(wěn)定性都有著嚴(yán)苛的要求。客戶選購(gòu)DIC應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)，都非常關(guān)注測(cè)量位移精度。接下來(lái)，采用實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證方式，分析DIC全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)的測(cè)量位移精度。

　　DIC軟件和算法以及實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備是影響其測(cè)量精度的關(guān)鍵因素。為了驗(yàn)證新拓三維XTDIC三維全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)的位移測(cè)量精度，采用可執(zhí)行的測(cè)量精度和準(zhǔn)確度評(píng)價(jià)方法，采用精度達(dá)到0.001的千分表，通過(guò)對(duì)接千分表驗(yàn)校位移數(shù)據(jù)，實(shí)現(xiàn)快速地對(duì)DIC全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量設(shè)備進(jìn)行精度驗(yàn)證。

　　DIC應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)-測(cè)量位移精度驗(yàn)證

　　借鑒引伸計(jì)的檢定方法，選擇兩個(gè)同一平面內(nèi)存在相對(duì)移動(dòng)的標(biāo)定物，移動(dòng)標(biāo)定物的距離，通過(guò)DIC應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)與千分表獲取位移數(shù)據(jù)比較，測(cè)得DIC全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)的準(zhǔn)確度;重復(fù)移動(dòng)至相同的水平比較兩輪結(jié)果的重復(fù)性，獲得非接觸應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)的精度。

　　1、架設(shè)好新拓三維DIC設(shè)備后，打開(kāi)DIC設(shè)備與調(diào)試完畢，讓其對(duì)接千分表。

　　2、把千分表調(diào)節(jié)到某個(gè)刻度，讓DIC設(shè)備拍攝調(diào)節(jié)前后的刻度。

　　3、通過(guò)DIC軟件分析采集的圖像數(shù)據(jù)，對(duì)其位移精度進(jìn)行驗(yàn)證。

　　分別將千分表調(diào)節(jié)到0.500刻度、1.000刻度、1.500刻度、2.000刻度、2.500刻度以及3.000刻度，將安裝調(diào)試好的XTDIC設(shè)備正對(duì)千分尺位置，DIC應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)工業(yè)相機(jī)拍攝手動(dòng)調(diào)節(jié)千分尺的具體某個(gè)刻度。

　　DIC應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)精度驗(yàn)證結(jié)果

　　千分表調(diào)節(jié)到0.500刻度時(shí)，XTDIC設(shè)備測(cè)量的位移數(shù)據(jù)為0.5012刻度。

　　千分表調(diào)節(jié)到1.000刻度時(shí)，XTDIC設(shè)備測(cè)量的位移數(shù)據(jù)為1.0018刻度。

　　千分表調(diào)節(jié)到2.000刻度時(shí)，XTDIC設(shè)備測(cè)量的位移數(shù)據(jù)為2.0007刻度。

　　千分表調(diào)節(jié)到3.000刻度時(shí)，XTDIC設(shè)備測(cè)量的位移數(shù)據(jù)為3.0012刻度。

　　此次采用新拓三維XTDIC三維全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)，借鑒引伸計(jì)的檢定方法，采用精度達(dá)到0.001的千分表進(jìn)行位移測(cè)量數(shù)據(jù)對(duì)比，建立了DIC應(yīng)變測(cè)量系統(tǒng)的精準(zhǔn)度驗(yàn)證，這對(duì)于數(shù)字圖像相關(guān)DIC技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)化并推廣其在科研實(shí)驗(yàn)及工程應(yīng)用具有重要的意義。