華測儀器的鐵電分析儀（Huace FE-3000）除電滯回線測試外，還支持多種材料電學特性的綜合測試，功能覆蓋鐵電、壓電、熱釋電、介電等領域。根據其模塊化設計和擴展能力，主要測試功能可歸納如下：

電滯回線測試曲線

基礎電學性能測試

1. 漏電流測試（Leakage Current Measurement）

測量材料在直流電場下的漏電特性，用于評估絕緣性能及器件可靠性。
2. 脈沖測試（PUND測試）

通過正負脈沖序列分析極化翻轉特性，適用于鐵電存儲器（FeRAM）的開關性能評估。
3. 電容-電壓曲線（C-V Curve）

表征材料介電常數隨電場的變化，用于界面態分析和MOS結構器件研究。
4. 擊穿測試（Breakdown Measurement, BDM）

檢測材料在高電場下的擊穿強度，關鍵用于電容器和絕緣材料評估。

漏電流測試曲線

時間相關特性測試

1. 疲勞測試（Fatigue Test）
模擬長期極化翻轉后材料性能衰減，適用于存儲器壽命研究。
2. 保持力測試（Retention Measurement）
量化極化狀態隨時間的變化，評估非易失性存儲器的數據保留能力。
3. 印跡測試（Imprint Test）
檢測材料矯頑場的偏移現象，揭示鐵電疇穩定性問題。
4. 弛豫電流/自放電測試（RX/DR模塊）
分離極化弛豫電流與漏電流，適用于DRAM材料特性分析。

溫度相關特性測試（需選配模塊）

1. 介電溫譜（Dielectric Thermal Spectrum, DTS）
測量介電常數隨溫度的變化，用于相變點分析。
2. 熱刺激電流（TSDC）
探測材料中 trapped charge 的釋放過程，研究缺陷能級分布。
3. 變溫電阻測試（High/Low Temperature Resistance）
支持-150°C至400°C范圍，分析材料導電機制與溫度關聯性。
4. 電卡效應測試（Electrocaloric Measurement, ECM）
通過電場誘導的溫度變化評估制冷材料性能。

熱釋電測試曲線

壓電與熱釋電特性測試（需選配模塊）

1. 壓電性能測試（Piezo Measurement, PZM）
測量壓電系數（d??）、蝴蝶曲線，用于執行器與傳感器設計。
2. 熱釋電性能測試（Pyroelectric Measurement, PYM）
測量化材料因溫度變化產生的電荷，適用于紅外探測器材料研究。
3. 應變-電場曲線
結合激光測振儀，實現微位移同步監測。

擴展功能

1. 阻抗分析（Impedance Measurement）
支持寬頻阻抗譜（0.03Hz–1MHz），研究材料介電弛豫與等效電路。
2. 充放電測試（ESD）
模擬電容器充放電循環，評估能量存儲效率。
華測儀器鐵電分析儀通過模塊化設計和外接擴展（華測儀器生產的高壓放大器、溫控臺、激光測振儀等），實現了從基礎電學參數到復雜多物理場耦合測試的全覆蓋。其優勢在于：單臺設備集成16項以上測試功能，提升實驗效率；支持工業級多通道自動化測試，適配量產場景。用戶可根據研究需求（如薄膜/塊體材料、存儲器/傳感器開發）靈活選配模塊，構建定制化測試平臺。