在高校與科研院所的實(shí)驗(yàn)室中，鐵電分析儀是研究電子陶瓷、壓電材料、存儲(chǔ)器件的工具。進(jìn)口設(shè)備高昂的成本、漫長(zhǎng)的維修周期，以及接口不兼容導(dǎo)致的“設(shè)備孤島”問(wèn)題，困擾著科研工作者。

華測(cè)儀器推出的FE系列鐵電分析儀及測(cè)試夾具，實(shí)現(xiàn)“德國(guó)TF+美國(guó)Radiant雙適配”為突破，不僅實(shí)現(xiàn)了與兩大國(guó)際品牌接口的無(wú)縫兼容，更以“主機(jī)/放大器夾具損壞可直接替換”的靈活方案，為科研機(jī)構(gòu)提供了高性價(jià)比、高可靠性的新選擇。

塊體材料測(cè)試鐵電分析儀

一、替換方案

1.1 進(jìn)口主機(jī)故障

若高?？蒲性核牡聡?guó)TF或美國(guó)Radiant鐵電分析儀主機(jī)損壞，可直接用華測(cè)儀器FE系列主機(jī)替換：

• 硬件兼容
• 華測(cè)儀器主機(jī)接口與TF/Radiant夾具完全匹配，無(wú)需調(diào)整測(cè)試臺(tái)架。
• 成本優(yōu)勢(shì)
• 華測(cè)儀器主機(jī)價(jià)格僅為進(jìn)口設(shè)備的30%~40%，且提供三年整機(jī)保修，維修響應(yīng)時(shí)間≤24小時(shí)。

1.2 進(jìn)口夾具損耗

若TF或Radiant夾具因頻繁使用導(dǎo)致接觸不良或損壞時(shí)，華測(cè)儀器測(cè)試夾具可替代：

• 機(jī)械結(jié)構(gòu)零差異
• 華測(cè)儀器夾具尺寸、定位孔與進(jìn)口設(shè)備一致，安裝即用。
• 多型號(hào)覆蓋
• 華測(cè)儀器提供薄膜夾具、塊體夾具、高低溫夾具等全系列型號(hào)，適配TF/Radiant測(cè)試場(chǎng)景。

二、客戶見(jiàn)證

西安交通大學(xué)實(shí)驗(yàn)室的進(jìn)口夾具故障，用華測(cè)儀器夾具替換后，測(cè)試流程順暢，數(shù)據(jù)穩(wěn)定。

華測(cè)儀器測(cè)試夾具

華測(cè)儀器通過(guò)“德國(guó)TF+美國(guó)Radiant雙適配”技術(shù)與“主機(jī)/夾具即連即用”替換方案，不僅解決了科研機(jī)構(gòu)對(duì)進(jìn)口設(shè)備的依賴，更以“高性價(jià)比、高兼容性、高可靠性”重新定義了鐵電測(cè)試的解決方案。

鐵電分析儀