推存儲測試全棧解決方案，覆蓋中國存儲產業鏈全流程

2025年6月17日，半導體測試領域迎來里程碑時刻！全球半導體自動測試設備領軍企業泰瑞達（TERADYNE）與昂科技術（ACROVIEW）正式簽署戰略合作協議，簽約儀式在位于深圳市南山區科技園的漢京金融中心7樓的昂科技術總部圓滿完成。

雙方高層領導、半導體行業協會領導、重要客戶代表及昂科員工齊聚一堂，共同見證這一具有深遠意義的合作啟動。

隨著AI、5G、IoT、汽車芯片等行業的快速發展，半導體設計、開發和測試進入發展的關鍵時期，且在技術發展和人才流動的大環境下，半導體產業格局正在歷經重大結構調整。先進封裝和異構集成的復雜技術所需求的可靠性，優選測試資源、先進測試方法以及全棧式測試設備，已然成為客戶提升核心競爭力的關鍵要素。

泰瑞達與昂科技術的深入合作，將共同為中國存儲半導體產業鏈提供更快速、完整且具成本效益的測試解決方案。此次合作將充分發揮雙方優勢，使測試方案的應用范圍全面延伸至存儲芯片的設計、制造、封裝測試到模塊生產全流程，滿足中國客戶全方位的需求。泰瑞達通過戰略合作伙伴昂科的支持，能更完整地覆蓋并擴展直銷團隊的銷售服務范圍，全面滿足不同規模、不同需求的客戶，確保中國半導體企業都能獲得最適配的測試支持。

昂科通過戰略合作伙伴泰瑞達的支持，構建了芯片測試全周期的產品和服務，覆蓋從PSV（硅后驗證），CP（晶圓測試），FT（封裝測試），SLT（系統級測試），BI（老化測試）直至Programming（燒錄）的全系列解決方案，幫助客戶產品快速上市和快速盈利的同時，提升測試技術水平，提升核心競爭力。

泰瑞達亞太區銷售副總裁Richard Hsieh先生表示：

Magnum測試平臺以其卓越的性能成為存儲測試領域的領導者。它作為單一平臺，即可覆蓋所有存儲測試需求，憑借更高的同測數量、更短的測試時間、更高的測試精度以提升良率、以及更低的總體生產成本，為客戶帶來顯著的競爭優勢。”Richard先生進一步強調：“泰瑞達與昂科的合作是優勢互補的強強聯合。通過整合雙方在測試設備、接口技術、本地化服務與市場覆蓋方面的專長，我們能共同為客戶提供更快速響應、更完整覆蓋、更具成本效益的完整測試方案。這將幫助客戶在激烈的市場競爭中搶占量產先機，贏得更高的市場份額，并創造更豐厚的利潤。

泰瑞達亞太區銷售副總裁Richard Hsieh先生

昂科技術CEO黃斌華總結分享：

我們與全球最頂尖的合作伙伴一道服務本地優秀企業，共建生態，目標是提升全行業的測試水平，提升產品品質，為客戶提升效益做出貢獻。與泰瑞達的攜手，是昂科構建“國際領先測試技術+本土產品方案創新”的存儲全棧式測試解決方案商業范式的實踐，是踐行“以客戶為中心”的服務精神體現。昂科技術開發的V系列全球首個全自動老化測試機（Auto Burn-In）以及全球首個堆棧式SLT產品，極大的提升了客戶老化測試和系統級測試的效率和覆蓋率，尤其在LPDDR5、DDR5、HBM、NAND、SSD、UFS測試的應用中表現優異。我們將與泰瑞達一起，通過ATE與ABI、SLT測試方案的協同，解決客戶在技術、成本、質量上的痛點，為存儲芯片客戶創造最大化價值。

昂科技術CEO黃斌華先生

當前半導體市場競爭日益激烈，唯有持續提升技術附加價值與服務能力，企業方能實現穩健發展與永續經營。泰瑞達與昂科的合作正是致力于此，助力中國存儲產業客戶提升核心競爭力。

業內人士認為，這一合作或將成為半導體測試領域跨國協作的典范，其后續發展值得持續關注。簽約儀式后，與會嘉賓參觀了昂科技術新落成的辦公區，雙方表示將攜手推動存儲測試技術革新，助力全球半導體產業發展。

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