安徽
工作穩定性成為影響有機場效應晶體管（OFETs）商業化的關鍵問題。人們普遍認為它與介電介質和有機半導體界面上的缺陷和陷阱密切相關，但這種認識并不總是有效地解決運行不穩定性問題，這意味著影響運行穩定性的因素尚未得到充分了解。
2024年9月6日，天津大學Tie Kai等人在Science Advances在線發表題為“Crucial role of interfacial thermal dissipation in the operational stability of organic field-effect transistors”的研究論文，該研究揭示了自熱效應是影響運行穩定性的另一個關鍵因素。這項工作加深了對運行穩定性的認識，為超高穩定器件的研制開辟了一條有效途徑。
但是，在2025年1月29日，該文章被撤回，主要原因是數據異常。
2024年9月6日，Science Advances發表了該文章。發表后，讀者提出了多個數字有問題的擔憂。這些問題已提交給作者，并于2024年11月8日在論文上發表了一份編輯關注表達。對數據的分析得出了對多個數據完整性的擔憂。
圖1H似乎有異常的數據點。圖4A和圖S12顯然是通過使用彩色掩模來覆蓋原始圖形的部分而改變的。在圖2D中，設備實際尺寸的印記顯然被彩色掩模覆蓋，并在其位置添加了不正確的比例。
結果，這篇研究論文被撤回。所有作者都同意撤稿。
參考消息：
https://www.science.org/doi/10.1126/sciadv.adv4628
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