隨著電子器件向微型化、高集成度方向發展,多層陶瓷電容器(MLCC)作為關鍵基礎元件,其性能穩定性直接關乎設備可靠性。針對MLCC高壓電容器的高電場介電特性、損耗機制及電滯回線行為,先進的測試系統成為研發與質量控制的核心工具。
MLCC高壓電容器高電場介電、損耗、電滯回線測試系統
技術架構
MLCC高壓電容器測試系統采用“工控機+FPGA+高壓放大器”的集成架構,支持從低頻1 mHz到高頻10 kHz的信號輸出與采集。其工作原理可分為三層:
- 信號生成層:FPGA根據預設波形(如正弦波、三角波)生成高頻高壓信號,經高壓放大器輸出至待測樣品,電壓范圍覆蓋0-±20 kV,滿足寬頻帶激勵需求。
- 數據采集層:鎖相放大器同步捕獲樣品響應信號,利用內部參考模式消除環境干擾,電流測量精度達10^-13 A量級,確保介電常數(ε')和損耗因子(tanδ)的納級分辨率。
- 分析控制層:基于LabView軟件平臺,實現自動化測試流程編排、數據實時可視化及多通道協同控制,支持-80℃至230℃溫區內的電性能映射。
MLCC高壓電容器高電場介電、損耗、電滯回線測試系統
功能:
高電場介電測試
- AC DFR技術:采用介電頻率響應分析法,在1 V/μs快速升壓下捕捉材料極化動態,評估電場強度與介電常數的非線性關系。
- 極端環境模擬:結合環境試驗箱,在液氮低溫(-80℃)或高溫(230℃)下測試電容溫度系數(TCC),支持車規級MLCC的熱穩定性驗證。
損耗機制量化
- 多通道同步監測:華測HCCT-40H系統支持64通道并行測試,同步記錄-85℃至180℃溫區內電容(C)、損耗因子(D)、阻抗(Z)的變化曲線,實現壽命衰減模型擬合。
- 機械應力耦合測試:集成應力測試儀監測焊接熱沖擊下的電容漂移,結合有限元分析(FEA)優化封裝結構。
電滯回線分析
- 動態Sawyer-Tower電路:優化高壓擊穿測試流程,支持10 kV/1000 Hz高壓電滯回線掃描,自動計算剩余極化強度(Pr)和矯頑場(Ec)。
- 充放電效率評估:通過軟件算法解析能量密度曲線,支持鐵電材料儲能特性的循環壽命預測。
應用場景:跨領域可靠性保障
汽車電子
- 針對車規級MLCC的AEC-Q200認證需求,系統在-40℃至150℃溫區內進行溫度循環測試,結合機械振動臺模擬引擎艙振動,篩選出抗熱沖擊電容型號。
5G通信
- 在高頻(>1 GHz)場景下評估MLCC的等效串聯電感(ESL)和等效串聯電阻(ESR),優化射頻前端濾波電路設計,降低信號插入損耗。
工業電源
- 針對光伏逆變器中的高壓MLCC,測試系統在10 kV/DC偏壓下評估漏電流特性,結合電滯回線數據預測長期工作下的容值衰減趨勢。
MLCC高壓電容器高電場介電、損耗、電滯回線測試系統
特別聲明:以上內容(如有圖片或視頻亦包括在內)為自媒體平臺“網易號”用戶上傳并發布,本平臺僅提供信息存儲服務。
Notice: The content above (including the pictures and videos if any) is uploaded and posted by a user of NetEase Hao, which is a social media platform and only provides information storage services.