關鍵字： 67GHZ， 雙同軸裸線， 高頻測試，治具

搞要： 本文簡要分析了67GHz 雙同軸裸線的高頻性能測試的挑戰及應對方法，介紹測試樣品準備的要點、測試治具的選擇、如何優異地完成頻率高達67GHz的性能測試。

正文

因應AI及高數據帶寬要求，雙同軸線材的應用頻率越來越高，測試頻寬要求達到了驚人的67GHz，線材生產廠家的工藝管控精度更是以微米計算，普通的PCB測試方案盡管完善到極致其測試上限只能達到50GHz，超過50GHz 時由于高頻信號的反射加劇導致SDD21曲線抖動明顯加大，測量值將嚴重偏離產品的實際性能表現。

圖1： 用PCB測試治具測得的SDD21

為了得到優異的高頻性能，須注意特性阻抗的連續性，端接位置的特性阻抗保持在100歐姆，使用10ps的上升時間進行端接位置的特性阻抗的分析其波動不要超過10歐姆。對雙同軸裸線的處理根據經驗鋁箔去除長度不可超過0.5mm為佳，如圖2所示

圖2：雙同軸裸線的鋁箔去除長度不可超過0.5mm

測試治具在高頻測試中的作用至關重要，高頻測試治具不但要方便使用者操作、美觀耐用，還需保證優異的高頻性能，因此裸線高頻測試治具的系統結構需保證阻抗的連續性，特別是端接位置的處理、屏蔽層的處理至關重要，裸線推入治具（圖3）與治具內導體接觸后，蓋上金屬蓋板壓下膠塊固定線纜與治具（圖4）。使用10ps的上升時間進行端接位置的特性阻抗的分析其波動不會超過10歐姆（圖5）。測試結果顯示SDD21直至67GHz曲線波動極小。（圖6）

圖3： 67GHz雙同軸裸線測試治具

圖4 67GHz雙同軸裸線測試治具

結語

通過對待測物鋁箔去除長度的控制及測試治具結構的處理保證了端接處特性阻抗的連續性，從而獲得優異的67GHz高頻測試性能，此方法適用于32AWG-26AWG的雙同軸裸線的高頻性能測試。

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